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高壓絕緣子的試驗項目 (1)測量電壓分布。一般1～3年進行一次，絕緣子串在正常和有缺陷情況下，電壓分布不同，有缺陷的絕緣子較正常的電壓要小，其電壓轉移到絕緣正常的元件上，可以通過測量電壓分布確定其絕緣性能。 (2)絕緣電阻試驗。懸式絕緣子每1～3年一次，用5000V兆歐表測每片絕緣子其阻值不小于300MΩ。 (3)高頻耐壓試驗每1～3年一次。
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